See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Eero Ivask

https://etis.ee/CV/Eero_Ivask/est
3.09.1971
6202259
ieero@pld.ttu.ee

Teenistuskäik

Töökohad ja ametid
2005 - Uurimistöö Fraunhoferi Instituut, Dresden, Saksamaa (2 nädalat)
2003 – Uurimistöö Fraunhoferi Instituut, Dresden, Saksamaa (1 kuu)
2001 - “Tulemüüri kasutamine süsteemiga MOSCITO” Fraunhoferi Instituut, Dresden, Saksamaa (1 kuu)
2000 - “Internetipõhine testigenererimine süsteemiga MOSCITO” Fraunhoferi Instituut, Dresden, Saksamaa (1 kuu)
1999 - teadustöö teemal "Disain ja testimine" Fraunhoferi Integraalskeemide Instituudis Dresdenis, Saksamaal (1 kuu)
1998- uurimistöö teemal "Disain ja testimine" Fraunhoferi Integraalskeemide Instituudis Dresdenis, Saksamaal (1 kuu)
1999 (15.01-15.04) uurimistöö Rootsi Kuninglikus Tehnoloogia-instituudis (ESD labor) VISBY projekti raames teemal: "Multiparadigmaline tarkvara/riistvara arenduskeskond IRSYD
1996- uurimisprojekt "Mittetäielikud teadmised" Tehisintellekti labor,Savoie Instituut Prantsusmaa (7 kuud)
1995- uurimistöö teemal "Disain ja Testimine" TIMA laboris Grenoble Polütehniline Instituut, Prantsusmaa (3 kuud)
1995–31.08.2012   
Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool , Teadur (1,00)
 
 
Haridustee
1998- Tallinna Tehnikaülikool Tehn. tead. magister
1996- Tallinna Tehnikaülikool, Inseneri diplom
1989- Tallinna 46. Keskkooli lõpetamine
1998–2006   
Tallinna Tehnikaülikool Tehn. tead. doktor

Kvalifikatsioon

Teaduskraadid
Eero Ivask, doktorikraad, 2006, (juh) Raimund Ubar, Digitaalsüsteemide testide genereerimine veebipõhises keskkonnas, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut.
Eero Ivask, magistrikraad (teaduskraad), 1998, (juh) Raimund Ubar, Genetic Algorithms in Test Pattern Generation, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut.
 
 
Teaduspreemiad ja tunnustused
0, Eero Ivask, 1997- Esimene auhind Eesti Kultuuriministeeriumi ja ETF-i tudengitööde riiklikul konkursil tehnika valdkonnas (kollektiivne töö: teaduspublikatsioonid 1996-1997)

Publikatsioonid

Klass
Aasta
Publikatsioon
 
1.2.
2011
Ivask, Eero; Devadze, Sergei; Ubar, Raimund. (2011). Distributed Fault Simulation with Collaborative Load Balancing for VLSI Circuits. Scalable Computing: Practice and Experience, Vol 12, 153-163.
1.2.
2010
Ivask, E.; Devadze, S.; Ubar, R. (2010). Distributed Approach for Parallel Exact Critical Path Tracing Fault Simulation. International Journal of Microelectronics and Computer Science, 1 (2), 165−174.
3.1.
2010
Ivask, Eero; Devadze, Sergei; Ubar, Raimund (2010). Collaborative Distributed Fault Simulation for Digital Electronic Circuits. Intelligent Distributed Computing IV: 4th International Symposium on Intelligent Distributed Computing - IDC 2010, Tangier, Marocco, September 2010. Ed. Mohammad Essaaidi, Michele Malgeri, Costin Badica. Springer, 67−76. (Studies in Computational Intelligence).
3.1.
2010
Ivask, Eero; Devadze, Sergei; Ubar, Raimund (2010). Distributed Approach for Parallel Exact Critical Path Tracing Fault Simulation. Proceedings of the 17th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2010 : Wroclaw, Poland 24 - 26 June, 2010. Ed. Andrzej Napieralski. IEEE, 471−476.
3.1.
2010
Ivask, E.; Devadze, S.; Ubar, R. (2010). Collaborative Distributed Computing in the Field of Digital Electronics Testing. Information Technology for Balanced Automation Systems: BASYS 2010, Valencia, Spain, July 21-23. Springer, 145−152.
3.1.
2008
Ellervee, P.; Reinsalu, U.; Arhipov, A.; Ivask, E.; Tammemäe, K.; Evartson, T.; Sudnitson, A. (2008). HDL-s and FPGA-s in Digital Design Education. The 19th EAEEIE Annual Conference, Tallinn, Estonia, June 2008. , 37−41.
3.1.
2008
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2008). Distributed Approach for Genetic Test Generation In the Field of Digital Electronics. IDC. Springer-Verlag.
3.1.
2008
Ivask, E.; Jutman, A.; Raik, J. (2008). Web-based framework for distributed remote laboratory in the field of digital system test. 19th EAEEIE Annual Conference June 29 - July 2, 2008 Tallinn, Estonia : Formal Proceedings. Tallinn, Estonia: IEEE, 182 −187 .
3.1.
2008
Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (2008). Web-Based Framework for Parallel Distributed Test. Proceedings of the 11th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Systems (DDECS): Bratislava, 16-18 April 2008. Bratislava, Slovakia: IEEE Computer Society Press, 4 pp.
2.3.
2006
Ivask, E. (2006). Digital Test in WEB-Based Environment. (Doktoritöö, Tallinna Tehnikaülikool). Tallinn: Tallinn University of Technology Press.
3.1.
2006
Peeter Ellervee, Eero Ivask, Margus Kruus (2006). Improved VHDL Input for High-Level Synthesis Tool xTractor. The 10th Biennial Baltic Electronic Conference, Tallinn Estonia, Oct. 2006. 87−90.
3.5.
2006
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2006). Fault Oriented Test Pattern Generation for Sequential Circuits Using Genetical Algorithms. Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK aastakonverentsi kogumik (21−25). . Tallinna Tehnikaülikool.
3.1.
2004
Brik, Marina; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Ivask, Eero (2004). On using genetic algorithm for test generation. 9th Biennial Baltic Electronics Conference. , 233−236.
3.1.
2004
Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (2004). Web-based environment for digital electronics test tools. IFIP PRO-VE (Virtual Enterprises and Collaborative Networks (435−442). . Toulouse: Kluwer Scientific Publishers.
3.1.
2004
Ivask, E.; Ellervee, P. (2004). VHDL Front-End for High-Level Synthesis Tool xTractor. The 9th Biennial Baltic Electronic Conference (BEC'2004), Tallinn, Estonia, Oct. 2004. , 111−114.
3.4.
2004
Brik, M.; Raik, J.; Ubar, R.; Ivask, E. (2004). GA-based Test Generation for sequential circuits. Proc. of East-West Design&Test Workshop(EWDTW'04): Ukraine, September 23-26, 2004. , 30−34.
3.4.
2004
Ivask, E.; Jutman, A.; Orasson, E.; Raik, J.; Ubar, R.; Wuttke, H.-D. (2004). Research Environment for Teaching Digital Test. Proc. of 49. Int. Conf. IWK, Ilmenau, Germany, September 27-30, 2004: 49. Int. Conf. IWK, Ilmenau, Germany, September 27-30, 2004. , 468−473.
1.2.
2003
Aarna, M.; Ivask, E.; Jutman, A.; Orasson, E.; Raik, J.; Ubar, R.; Vislogubov, V.; Wuttke, H.-D. (2003). Turbo Tester - Diagnostic Package for Research and Training. Radioelectronics & Informatics, 3 (24), 69−73.
3.1.
2003
Schneider, A.; Diener, K.-H.; Elst, G.; Ubar, R.; Ivask, E.; Raik, J. (2003). Integration of Digital Test Tools to the Internet-Based Environment MOSCITO. Proc. of 7th World Multiconference on Systemics, Cybernetics and Informatics: SCI 2003., Orlando, USA, 2003. , 136−141.
1.2.
2002
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2002). Defect-Oriented Mixed-Level Fault Simulation in Digital Systems. Facta universitatis - series Electronics and Energetics, 15 (1), 123−136.
3.1.
2002
Schneider, A.; Diener, K.-H.; Ivask, E.; Ubar, R.; Gramatova, E.; Fisherova, M.; Pleskacz, W.; Kuzmicz, W. (2002). Defect-Oriented Test Generation and Fault Simulation in the Environment of MOSCITO. Proceedings, BEC-2002: BEC-2002. , 303−306.
3.1.
2002
Schneider, André; Diener, Karl-Heinz; Ivask, Eero; Ubar, Raimund; Gramatová, Elena; Hollstein, Thomas; Kuzmicz, Wieslaw; Peng, Zebo (2002). Integrated Design and Test Generation Under Internet Based Environment MOSCITO. Euromicro DSD: Euromicro DSD, Dortmund, 4.-6.09.2002. IEEE Computer Society Press, 187−195.
3.1.
2002
Schneider, A.; Ivask, E.; Miklos, P.; Raik, J.; Diener, K. H.; Ubar, R.; Cibáková, T.; Gramatová, E. (2002). Internet-based Collaborative Test Generation with MOSCITO. IEEE Proc. of Design Automation and Test in Europe - DATE'02. Paris, March 4-8, 2002. IEEE Computer Society Press, 221−226.
3.1.
2002
Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, Marina (2002). Multi-Level Fault Simulation of Digital Systems on Decision Diagrams. Proceedings of the IEEE Workshop on Electronic Design, Test and Applications – DELTA’02: Christchurch, New Zealand, 29-31 January 2002. IEEE Computer Society Press, 86−91.
3.1.
2002
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2002). Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems, Microelectronics. MIEL 2002. 23rd International Conference, 2: 12-15 May 2002. IEEE Computer Society Press, 617−620.
3.4.
2002
Schneider, A.; Diener, K.-H.; Elst, G.; Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (2002). Internet-Based Testability-Driven Test Generation in the Virtual Environment MOSCITO. Proc. IFIP Conference on IP Based SOC Design, Grenoble, France: IFIP Conference on IP Based SOC Design, Grenoble, France, 2002. , 357−362.
3.4.
2002
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2002). Test Cover Calculation in Digital Systems with Word-Level Decision Diagrams. Proc. of the International Conference on Computer Dependability: Tomsk, Russia, September 10-13, 2002. , 315−319.
3.4.
2001
Ivask, E.; Ubar, R.; Raik, J.; Schneider, A. (2001). Internet Based Test Generation and Fault Simulation. Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS'2001, Györ, Hungary, April 18-20, 2001. , 57−60.
3.4.
2001
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2001). Mixed-Level Defect Simulation in Data-Paths of Digital Systems. 2: 23rd Int. Conf. on Microelectronics. Nis, Yugoslavia, May 12-15 2001. , 617−620.
3.4.
2000
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2000). Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms. 7th Baltic Electronics Conference, Tallinn, October 8-11. , 129−132.
3.4.
2000
Diener, K.-H.; Elst, G.; Ivask, E.; Jervan, G.; Peng, Z.; Raik, J.; Ubar, R. (2000). Digital Design Flow with Test Activities. VILAB User Forum, Smolenice, 2000. , 11.
3.4.
2000
Ivask, E.; Ellervee, P. (2000). Mapping of VHDL Structures for Generic EDA Database Format IRSYD. The 7th Biennial Baltic Electronic Conference (BEC'2000), Tallinn, Estonia, Oct. 2000. , 317−320.
3.4.
1999
Elst, G.; Diener, K-H.; Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (1999). FPGA Design Flow with Automated Test Generation. 11th Workshop on Test Technology and Reliability of Circuits and Systems, Potsdam, 1999. , 120−123.
3.4.
1998
Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (1998). Comparison of Genetic and Random Techniques for Test Pattern Generation. 6th Baltic Electronics Conference, Tallinn, 1998. , 163−166.
3.1.
1996
Ubar, R.; Raik, J.; Paomets, P.; Ivask, E.; Jervan, G.; Markus, A. (1996). Low-Cost CAD System for Teaching Digital Test. Microelectronics Education (185−188). . Grenoble: World Scientific Publ Co Pte Ltd.
26.11.2020

Eero Ivask

https://etis.ee/CV/Eero_Ivask/eng
3.09.1971
6202259
ieero@pld.ttu.ee

Career

Institutions and positions
2005 Research Fraunhofer Gesellschaft, Institute of Integrated Circuits, Dresden, 2 weeks
2003 Research Fraunhofer Gesellschaft, Institute of Integrated Circuits, Dresden, 1 month
2000 Research Fraunhofer Gesellschaft, Institute of Integrated Circuits, Dresden, 1 month (Internet based test generation and fault simulation)
2001 Research Fraunhofer Gesellschaft, Institute of Integrated Circuits, Dresden, 1 month
1999 Research Fraunhofer Gesellschaft, Institute of Integrated Circuits, Dresden, 1 month
1998 Research Fraunhofer Gesellschaft, Institute of Integrated Circuits, Dresden, 1 month
1999 15.01-15.04 Research in ESD Lab in Royal Institute of Technology in Sweden in frame of VISBY project
1996 Research project “Incomplete knowledge”, Laboratory of Artificial Inteligence, Chambery Uinversity in France, 7 months1995 Research project in TIMA laboratory in Grenoble Polytechnical University in France, 3 months
1995 Research project "Design and Test" TIMA laboratory Grenoble Polytechnical Instituut, France (3 kuud)
1995–31.08.2012   
Tallinn University of Technology , School of Information Technologies, Department of Computer Engineering , Chair of Computer Systems Test and Verification, Researcher (1,00)
 
 
Education
1998 – Tallinn Technical University, Master of Science
1996 - Tallinn Technical University, Diploma of Eng.
1989 – graduation of Tallinn 46. Highschool
1998–2006   
Tallinn Technical University, Ph.D

Qualifications

Academic degrees
Eero Ivask, Doctor's Degree, 2006, (sup) Raimund Ubar, Digitaalsüsteemide testide genereerimine veebipõhises keskkonnas (Digital Test in WEB-Based Environment), Tallinn University of Technology School of Information Technologies, Department of Computer Engineering.
Eero Ivask, Research Master's Degree, 1998, (sup) Raimund Ubar, Genetic Algorithms in Test Pattern Generation, Tallinn University of Technology School of Information Technologies, Department of Computer Engineering.
 
 
Honours & awards
0, Eero Ivask, 1997- First prize in student work contest arranged by Estonian Cultural minirtry and Estonian Science Foundation in technical subject (Scientific publications 1996 – 1997)
 
 
Additional information
Master of Science 1998 Tallinn University of Technology

Publications

Category
Year
Publication
 
1.2.
2011
Ivask, Eero; Devadze, Sergei; Ubar, Raimund. (2011). Distributed Fault Simulation with Collaborative Load Balancing for VLSI Circuits. Scalable Computing: Practice and Experience, Vol 12, 153-163.
1.2.
2010
Ivask, E.; Devadze, S.; Ubar, R. (2010). Distributed Approach for Parallel Exact Critical Path Tracing Fault Simulation. International Journal of Microelectronics and Computer Science, 1 (2), 165−174.
3.1.
2010
Ivask, Eero; Devadze, Sergei; Ubar, Raimund (2010). Collaborative Distributed Fault Simulation for Digital Electronic Circuits. Intelligent Distributed Computing IV: 4th International Symposium on Intelligent Distributed Computing - IDC 2010, Tangier, Marocco, September 2010. Ed. Mohammad Essaaidi, Michele Malgeri, Costin Badica. Springer, 67−76. (Studies in Computational Intelligence).
3.1.
2010
Ivask, Eero; Devadze, Sergei; Ubar, Raimund (2010). Distributed Approach for Parallel Exact Critical Path Tracing Fault Simulation. Proceedings of the 17th International Conference Mixed Design of Integrated Circuits and Systems MIXDES 2010 : Wroclaw, Poland 24 - 26 June, 2010. Ed. Andrzej Napieralski. IEEE, 471−476.
3.1.
2010
Ivask, E.; Devadze, S.; Ubar, R. (2010). Collaborative Distributed Computing in the Field of Digital Electronics Testing. Information Technology for Balanced Automation Systems: BASYS 2010, Valencia, Spain, July 21-23. Springer, 145−152.
3.1.
2008
Ellervee, P.; Reinsalu, U.; Arhipov, A.; Ivask, E.; Tammemäe, K.; Evartson, T.; Sudnitson, A. (2008). HDL-s and FPGA-s in Digital Design Education. The 19th EAEEIE Annual Conference, Tallinn, Estonia, June 2008. , 37−41.
3.1.
2008
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2008). Distributed Approach for Genetic Test Generation In the Field of Digital Electronics. IDC. Springer-Verlag.
3.1.
2008
Ivask, E.; Jutman, A.; Raik, J. (2008). Web-based framework for distributed remote laboratory in the field of digital system test. 19th EAEEIE Annual Conference June 29 - July 2, 2008 Tallinn, Estonia : Formal Proceedings. Tallinn, Estonia: IEEE, 182 −187 .
3.1.
2008
Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (2008). Web-Based Framework for Parallel Distributed Test. Proceedings of the 11th IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Systems (DDECS): Bratislava, 16-18 April 2008. Bratislava, Slovakia: IEEE Computer Society Press, 4 pp.
2.3.
2006
Ivask, E. (2006). Digital Test in WEB-Based Environment. (Doktoritöö, Tallinna Tehnikaülikool). Tallinn: Tallinn University of Technology Press.
3.1.
2006
Peeter Ellervee, Eero Ivask, Margus Kruus (2006). Improved VHDL Input for High-Level Synthesis Tool xTractor. The 10th Biennial Baltic Electronic Conference, Tallinn Estonia, Oct. 2006. 87−90.
3.5.
2006
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2006). Fault Oriented Test Pattern Generation for Sequential Circuits Using Genetical Algorithms. Info- ja kommunikatsioonitehnoloogia doktorikooli IKTDK aastakonverentsi kogumik (21−25). . Tallinna Tehnikaülikool.
3.1.
2004
Brik, Marina; Raik, Jaan; Ubar, Raimund; Ivask, Eero (2004). On using genetic algorithm for test generation. 9th Biennial Baltic Electronics Conference. , 233−236.
3.1.
2004
Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (2004). Web-based environment for digital electronics test tools. IFIP PRO-VE (Virtual Enterprises and Collaborative Networks (435−442). . Toulouse: Kluwer Scientific Publishers.
3.1.
2004
Ivask, E.; Ellervee, P. (2004). VHDL Front-End for High-Level Synthesis Tool xTractor. The 9th Biennial Baltic Electronic Conference (BEC'2004), Tallinn, Estonia, Oct. 2004. , 111−114.
3.4.
2004
Brik, M.; Raik, J.; Ubar, R.; Ivask, E. (2004). GA-based Test Generation for sequential circuits. Proc. of East-West Design&Test Workshop(EWDTW'04): Ukraine, September 23-26, 2004. , 30−34.
3.4.
2004
Ivask, E.; Jutman, A.; Orasson, E.; Raik, J.; Ubar, R.; Wuttke, H.-D. (2004). Research Environment for Teaching Digital Test. Proc. of 49. Int. Conf. IWK, Ilmenau, Germany, September 27-30, 2004: 49. Int. Conf. IWK, Ilmenau, Germany, September 27-30, 2004. , 468−473.
1.2.
2003
Aarna, M.; Ivask, E.; Jutman, A.; Orasson, E.; Raik, J.; Ubar, R.; Vislogubov, V.; Wuttke, H.-D. (2003). Turbo Tester - Diagnostic Package for Research and Training. Radioelectronics & Informatics, 3 (24), 69−73.
3.1.
2003
Schneider, A.; Diener, K.-H.; Elst, G.; Ubar, R.; Ivask, E.; Raik, J. (2003). Integration of Digital Test Tools to the Internet-Based Environment MOSCITO. Proc. of 7th World Multiconference on Systemics, Cybernetics and Informatics: SCI 2003., Orlando, USA, 2003. , 136−141.
1.2.
2002
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2002). Defect-Oriented Mixed-Level Fault Simulation in Digital Systems. Facta universitatis - series Electronics and Energetics, 15 (1), 123−136.
3.1.
2002
Schneider, A.; Diener, K.-H.; Ivask, E.; Ubar, R.; Gramatova, E.; Fisherova, M.; Pleskacz, W.; Kuzmicz, W. (2002). Defect-Oriented Test Generation and Fault Simulation in the Environment of MOSCITO. Proceedings, BEC-2002: BEC-2002. , 303−306.
3.1.
2002
Schneider, André; Diener, Karl-Heinz; Ivask, Eero; Ubar, Raimund; Gramatová, Elena; Hollstein, Thomas; Kuzmicz, Wieslaw; Peng, Zebo (2002). Integrated Design and Test Generation Under Internet Based Environment MOSCITO. Euromicro DSD: Euromicro DSD, Dortmund, 4.-6.09.2002. IEEE Computer Society Press, 187−195.
3.1.
2002
Schneider, A.; Ivask, E.; Miklos, P.; Raik, J.; Diener, K. H.; Ubar, R.; Cibáková, T.; Gramatová, E. (2002). Internet-based Collaborative Test Generation with MOSCITO. IEEE Proc. of Design Automation and Test in Europe - DATE'02. Paris, March 4-8, 2002. IEEE Computer Society Press, 221−226.
3.1.
2002
Ubar, Raimund; Raik, Jaan; Ivask, Eero; Brik, Marina (2002). Multi-Level Fault Simulation of Digital Systems on Decision Diagrams. Proceedings of the IEEE Workshop on Electronic Design, Test and Applications – DELTA’02: Christchurch, New Zealand, 29-31 January 2002. IEEE Computer Society Press, 86−91.
3.1.
2002
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2002). Mixed-level defect simulation in data-paths of digital systems, Microelectronics. MIEL 2002. 23rd International Conference, 2: 12-15 May 2002. IEEE Computer Society Press, 617−620.
3.4.
2002
Schneider, A.; Diener, K.-H.; Elst, G.; Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (2002). Internet-Based Testability-Driven Test Generation in the Virtual Environment MOSCITO. Proc. IFIP Conference on IP Based SOC Design, Grenoble, France: IFIP Conference on IP Based SOC Design, Grenoble, France, 2002. , 357−362.
3.4.
2002
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2002). Test Cover Calculation in Digital Systems with Word-Level Decision Diagrams. Proc. of the International Conference on Computer Dependability: Tomsk, Russia, September 10-13, 2002. , 315−319.
3.4.
2001
Ivask, E.; Ubar, R.; Raik, J.; Schneider, A. (2001). Internet Based Test Generation and Fault Simulation. Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems - DDECS'2001, Györ, Hungary, April 18-20, 2001. , 57−60.
3.4.
2001
Ubar, R.; Raik, J.; Ivask, E.; Brik, M. (2001). Mixed-Level Defect Simulation in Data-Paths of Digital Systems. 2: 23rd Int. Conf. on Microelectronics. Nis, Yugoslavia, May 12-15 2001. , 617−620.
3.4.
2000
Ivask, Eero; Raik, Jaan; Ubar, Raimund (2000). Fault oriented test pattern generation for sequential circuits using genetic algorithms. 7th Baltic Electronics Conference, Tallinn, October 8-11. , 129−132.
3.4.
2000
Diener, K.-H.; Elst, G.; Ivask, E.; Jervan, G.; Peng, Z.; Raik, J.; Ubar, R. (2000). Digital Design Flow with Test Activities. VILAB User Forum, Smolenice, 2000. , 11.
3.4.
2000
Ivask, E.; Ellervee, P. (2000). Mapping of VHDL Structures for Generic EDA Database Format IRSYD. The 7th Biennial Baltic Electronic Conference (BEC'2000), Tallinn, Estonia, Oct. 2000. , 317−320.
3.4.
1999
Elst, G.; Diener, K-H.; Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (1999). FPGA Design Flow with Automated Test Generation. 11th Workshop on Test Technology and Reliability of Circuits and Systems, Potsdam, 1999. , 120−123.
3.4.
1998
Ivask, E.; Raik, J.; Ubar, R. (1998). Comparison of Genetic and Random Techniques for Test Pattern Generation. 6th Baltic Electronics Conference, Tallinn, 1998. , 163−166.
3.1.
1996
Ubar, R.; Raik, J.; Paomets, P.; Ivask, E.; Jervan, G.; Markus, A. (1996). Low-Cost CAD System for Teaching Digital Test. Microelectronics Education (185−188). . Grenoble: World Scientific Publ Co Pte Ltd.
26.11.2020

Otsi projekti

  • {{item.Name}}
Asutus on projekti finantseerija   Asutus on projekti teostaja  
  • {{searchListItem.Name}}
Kõik   Tavaprojektid   Ülemprojektid   Alamprojektid  
Uus Frascati (2015)
Uus ja vana Frascati (otsing uue järgi väljastab ka seotud vanad)
Kõik
Käimasolevad
Lõppenud
Algus
Hajus
Täpne
Lihtotsing Tühjenda
  • Leitud 19 kirjet
ProgrammLiikNumberNimiProjekti algusProjekti lõppVastutav täitjaAsutusFinantseerijapoolne rahastamine
MUUV150Aktsioon EUROPRACTICE01.01.199531.12.2004Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 0,06 EUR
MUUG3658 (ETF3658)Digitaalelektroonika disaini ja testi virtuaallaboratoorium01.01.199931.12.2002Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 44 237,73 EUR
ETFETF5649Digitaalskeemide defekt-orienteeritud diagnostika01.01.200331.12.2006Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond40 819,99 EUR
MUUT244 (0140244s98)Digitaalsüsteemide projekteerimise ja diagnostika alased uuringud, väljatöötlused ja rakendused01.01.199831.12.2002Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 417 982,18 EUR
MUUF11007EAS eeluuring - Eeluuring mikroelektroonika kiipide tõrkekindlate 3D-arhitektuuride rakendusuuringule 7. raamprogrammi raames (3D-CHIP)02.11.201020.02.2011Jaan RaikTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 18 198,00 EUR
MUUF9077EAS eeluuring - Keerukate elektroonika-trükkplaatide tootmisvigade tuvastamistehnoloogia arendamine26.05.200924.09.2009Jaan RaikTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 14 164,42 EUR
MUUBF39EÜ 6. raamprogrammi teadusprojekti (STREP) kaasfinantseerimine06.04.200631.12.2006Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 13 741,00 EUR
MUUV151Funktsionaalne isetestimine digitaalsüsteemides, EST-000-0101.01.200031.12.2002Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 20 000,06 EUR
TKTAR8077Integreeritud elektroonikasüsteemide ja biomeditsiinitehnika tippkeskus CEBE07.07.200831.08.2015Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut2 066 263,60 EUR
ETFETF7483Isediagnoosivad digitaalsüsteemid01.01.200831.12.2011Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond55 414,27 EUR
ETFETF5910Isetestivad digitaalsüsteemid01.01.200431.12.2007Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond51 822,58 EUR
ETFETF7068Kõrgtaseme otsustusdiagrammidel põhinevad digitaalsüsteemide verifitseerimis- ja testimismeetodid01.01.200731.12.2010Jaan RaikTallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond39 083,26 EUR
MUUG5637 (ETF5637)Kõrgtaseme testigenereerimine ja testitavuse analüüs digitaalskeemidele01.01.200331.12.2005Jaan RaikTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 17 538,06 EUR
MUUV149Mikroelektroonika virtuaalne laboratoorium teaduskoostööks ja teabesiirdeks01.01.199831.12.2001Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 42 190,12 EUR
MUU163LMikroprotsessorite isetestimise kontseptsioon ja projekteerimisvahendid01.06.200131.05.2003Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 17 421,04 EUR
MUUG4294 (ETF4294)Multiparadigmaline ühekiibi digitaalsüsteemide projekteerimise keskkond01.01.200031.12.2001Peeter EllerveeTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide projekteerimise õppetool 12 079,30 EUR
SFSF0140041s08Töökindlate sardsüsteemide disain01.01.200831.12.2013Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond1 504 530,37 EUR
MUUV170Uurimis- ja õppetöö meetodid valdkonnas 'Ühekiibisüsteemide disain'01.12.200130.11.2004Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 124 627,71 EUR
MUUV195Virtuaalse infotehnoloogia teadusliku uurimis- ja arendustöö tippkeskuse rajamine01.11.200231.08.2005Raimund UbarTallinna Tehnikaülikool; Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool 137 346,13 EUR