See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
Aatomjõu mikroskoopiline analüüs
Aatomjõu mikroskoopiline analüüs, Tallinna Tehnikaülikool, Marit Kauk-Kuusik.
Teenus
Aatomjõu mikroskoopiline analüüs
Atomic Force Microscopy analysis

  • {{row.Name}}
AFM võimaldab teha objekti pinnast kõrge resolutsiooniga topograafilisi pilte ning tuvastada electrilise potensiaaliga rikastatud juhtivaid piirkondi.
AFM enables high resolution surface topography images and nanoscale surface potential mapping (electrical) measurements.
Topography; Surface roughness; Microscopy; topograafia; mikroskoopiline analüüs
  • Töötlev tööstus
ADAPTER; Töötlev tööstus
ADAPTER; Production
marit.kauk-kuusik@ttu.ee
Kontaktisik: Dr. Marit Kauk-Kuusik, marit.kauk-kuusik@ttu.ee