See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus
"Muu" projekt V170
V170 "Uurimis- ja õppetöö meetodid valdkonnas 'Ühekiibisüsteemide disain' (1.12.2001−30.11.2004)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond, Arvutitehnika instituut, Arvutisüsteemide diagnostika ja verifitseerimise õppetool .
V170
Uurimis- ja õppetöö meetodid valdkonnas 'Ühekiibisüsteemide disain'
Research and Training Action for System on Chip Design
Research and Training Action for System on Chip Design
1.12.2001
30.11.2004
Teadus- ja arendusprojekt
Muu
muu - > välisleping
ETIS klassifikaatorAlamvaldkondCERCS klassifikaatorFrascati Manual’i klassifikaatorProtsent
4. Loodusteadused ja tehnika4.6. ArvutiteadusedT120 Süsteemitehnoloogia, arvutitehnoloogia1.1. Matemaatika ja arvutiteadus (matemaatika ja teised sellega seotud teadused: arvutiteadus ja sellega seotud teadused (ainult tarkvaraarendus, riistvara arendus kuulub tehnikavaldkonda)100,0
AsutusRiikTüüp
Euroopa Komisjon/ European Commission
PerioodSumma
01.12.2001−30.11.20041 950 000,00 EEK (124 627,71 EUR)
124 627,71 EUR

Projekti eesmärgiks oli integreerida Kesk- ja Ida-Euroopa akadeemilisi uurimisasutusi EL maades läbiviidava teadus- ja arendustöö pohilistes suundades koostööks mikroelektroonika valdkonnas. Üheks oluliseks projekti tulemuseks on saavutatud teadustulemuste juurutamine oppeprotsessi vastavate innovaatiliste oppevahendite voi laboris kasutatavate uurimistöövahendite väljatöötamise näol. Koostöös Ilmenau Tehnikaülikooliga töötasime välja internetil pohineva opisüsteemi digitaaltehnika disaini ja testi opetamiseks tehnikaülikoolides, mis on pakkunud elavat huvi rahvusvahelistel konverentsidel, nii Euroopas kui USAs. Oleme loonud appletid diagnoosiprotsesside laboratoorseks uurimiseks nii loogika kui ka registersiirete tasemel esitatud skeemides, rikete diagnoosimiseks kommutatsiooniahelates, funktsionaalse isetestimise meetodite uurimiseks registersiirete tasemel ja mitmete probleemide uurimiseks automaatide teooria vallast. Java applettidel pohinev tarkvara voimaldab läbi viia nii oppejou demonstratsioone loenguruumis, individuaalopet ja -treeningut, mis ei soltu ei ajast ega kohast, kui ka eksamineerida tudengeid. Koostöös Varssavi ja Bratislava Tehnikaülikoolidega töötasime välja spetsiaalse integraalskeemi DEFSIM, mis voimaldab valikuliselt katsetada reaalsete füüsikaliste defektide toimet digitaalskeemide käitumisele. Kiipi saab kasutada nii teaduslikus uurimistöös kui ka oppevahendina digitaalsüsteemide testimise ja diagnostika opetamisel tehnikaülikoolides. Taoline oppevahend on maailmas unikaalne. Projekti raames avaldatud publikatsioonide arv on 55. Töötati välja neli uut oppekursust, mida on ettekantud kokku 20 korral rohkem kui 10-s Euroopa ülikoolis.Valitud publikatsioonid: 1. R.Ubar, H-D.Wuttke. Research and Training Environment for Digital Design and Test. 34th ASEE/IEEE Frontiers in Education Conference, October 20-23, 2004, Savannah, GA, pp.S3F-18 to S3F-24. IEEE Catalog Number: 04CH37579. ISBN: 0-7803-8552-7. Library of Congress: 79-640910. ISSN: 0190-5848. 2. O.Novak, E.Gramatova, R.Ubar. IST Project REASON – Handbook of Testing Electronic Systems. Proc. of 5th European Dependable Computing Conf. – EDCC-5, Budapest, April 20-22, 2005, pp.15-18. 3. W.A.Pleskacz, T.Borejko, A.Walkanis, V.Stopjakova, A.Jutman, R.Ubar. DefSim: CMOS Defects on Chip for Research and Education. 7th IEEE Latin-American Test Workshop, March 26-29, 2006, Buenos Aires, Argentina, pp.74-79.
The main goal of the project is to facilitate integration of the academic and research institutions of Central and Eastern Europe (CEE) working in the field of microelectronics into the mainstream R&D activities going on in the EU countries. To achieve this goal, the project aimed at raising the level of education and research as well as the number of highly-skilled researchers and designers in the field of microelectronic design in CEE countries, in order to facilitate co-operation in R&D, to reduce the microelectronic skills shortage in Europe and to minimize the consequences of this shortage. In cooperation with TU Ilmenau an Internet based e-Learning environment for teaching design and test at technical universities was developed. Applets for diagnostic modelling of digital systems at logical and register transfer level were developed to investigate the problems of testing, fault diagnosis and self-testing. The software allows to carry out teaching in the classroom, individual e-learning which is independent on the time and place, and testing students during exams. In cooperation with TU Warsaw and TU Bratislava a specific educational chip DEFSIM was developed, which allows to investigate real physical defects in digital circuits. The chip can be used both in research and laboratory training. The chip is unic in the world. During the project 55 papers were published. Four new courses were developed which were presented at 20 tutorials in more than 10 European universities Selected publications: 1. R.Ubar, H-D.Wuttke. Research and Training Environment for Digital Design and Test. 34th ASEE/IEEE Frontiers in Education Conference, October 20-23, 2004, Savannah, GA, pp.S3F-18 to S3F-24. IEEE Catalog Number: 04CH37579. ISBN: 0-7803-8552-7. Library of Congress: 79-640910. ISSN: 0190-5848. 2. O.Novak, E.Gramatova, R.Ubar. IST Project REASON – Handbook of Testing Electronic Systems. Proc. of 5th European Dependable Computing Conf. – EDCC-5, Budapest, April 20-22, 2005, pp.15-18. 3. W.A.Pleskacz, T.Borejko, A.Walkanis, V.Stopjakova, A.Jutman, R.Ubar. DefSim: CMOS Defects on Chip for Research and Education. 7th IEEE Latin-American Test Workshop, March 26-29, 2006, Buenos Aires, Argentina, pp.74-79.
KirjeldusProtsent
Alusuuring100,0