Töö eesmärgiks on töötada välja uusi meetodeid, algoritme ja tarkvaratööriistu isetestivate digitaalsüsteemide diagnostikavahendite projekteerimiseks, analüüsiks ja optimeerimiseks.
Põhiprobleemideks, mida on kavas uurida, on:
- digitaalsüsteemide hübriid-isetestimisarhitektuuride projekteerimine, analüüs ja optimeerimine;
- digitaalsüsteemide funktsionaal-isetestimisarhitektuuride projekteerimine, analüüs ja optimeerimine;
- digitaalsüsteemide isetestitavuse analüüs ja disain;
- uued meetodid isetestivate digitaalsüsteemide projekteerimiseks hübriid/funktsionaalse põhimõtte alusel.
Projekti oodatavateks tulemusteks on:
- uued arhitektuurid hübriidse isetestimiskontseptsiooni realiseerimiseks digitaalsüsteemides;
- arvutusmudelid erinevate hübriidsete isetestimisarhitektuuride parameetrite hindamiseks;
- kiired ja lihtsad algoritmid hübriidsete isetestimislahenduste eelhindamiseks;
- hübriidsete isetestimisprotsesside optimeerimine etteantud erinevate kitsenduste juures;
- uued testide genereerimise, rikete simuleerimise ja testide optimeerimise meetodid hübriidsete isetestimisarhitektuuride ja -protsesside projekteerimiseks ning optimeerimiseks;
- uued meetodid funktsionaalseks isetestimiseks digitaalsüsteemides;
- meetodid hübriidse isetestimise põhimõtte kombineerimiseks funktsionaalse isetestimisega.
The main goal of the current project is to develop new methods, algorithms and software tools for design of self-testing digital systems.
The main problems and objectives to be investigated are:
- develoment, evaluation and optimization of hybrid BIST architectures of digital systems;
- develoment, evaluation and optimization of functional BIST of digital systems;
- methods for BIST driven design for testability of digital systems;
- development of new methods for design of self-testing digital systems by combining hybrid and functional BIST approaches with design for testability.
The following outcome of the project is expected:
- new architectures for implementing hybrid BIST conception in digital systems;
- cost models for new different hybrid BIST architectures;
- fast and simple cost estimation algorithms and tools for evaluation of solutions for hybrid BIST;
- methods for minimizing hybrid BIST cost at given different constraints;
- new test generation, fault simulation, test ordering and cost calculation tools and experimental research environment for carrying out optimization procedures for hybrid and functional BIST;
- new methods of functional BIST for digital systems;
- new methods of combining hybrid and functional BIST methods with design for testability.