See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Disordered structure and density of gap states in high-permittivity thin solid films

Kukli, K.; Dueñas, S.; Castán, H.; García, H.; Barbolla, J.; Aarik, J.; Aidla, A.; Ritala, M.; Leskelä, M. (2006). Disordered structure and density of gap states in high-permittivity thin solid films. In: Gusev, E. (Ed.). Defects in High-k Gate Dielectric Stacks (123−134).. The Netherlands: Springer. (NATO Science Series II. Mathematics, Physics and Chemistry; 216).
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Kukli, K.; Dueñas, S.; Castán, H.; García, H.; Barbolla, J.; Aarik, J.; Aidla, A.; Ritala, M.; Leskelä, M.
  • Inglise
Defects in High-k Gate Dielectric Stacks
Gusev, E.
The Netherlands
Springer
9781402043673
220
NATO Science Series II. Mathematics, Physics and Chemistry
216
2006
123134
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile