See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Wear-out Failure Analysis of an Impedance-Source PV Microinverter Based on System-Level Electro-Thermal Modeling

Shen, Y.; Chub, A.; Wang, H.; Vinnikov, D.; Liivik, E.; Blaabjerg, F. (2019). Wear-out Failure Analysis of an Impedance-Source PV Microinverter Based on System-Level Electro-Thermal Modeling. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 66 (5), 3914−3927. DOI: 10.1109/TIE.2018.2831643.
artikkel ajakirjas
Shen, Y.; Chub, A.; Wang, H.; Vinnikov, D.; Liivik, E.; Blaabjerg, F.
  • Inglise
IEEE Transactions on Industrial Electronics
0278-0046
66
5
2019
39143927
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Jah
roheline
WOS

Viited terviktekstile

doi.org/10.1109/TIE.2018.2831643