Wear-out Failure Analysis of an Impedance-Source PV Microinverter Based on System-Level Electro-Thermal Modeling
Shen, Y.; Chub, A.; Wang, H.; Vinnikov, D.; Liivik, E.; Blaabjerg, F. (2019). Wear-out Failure Analysis of an Impedance-Source PV Microinverter Based on System-Level Electro-Thermal Modeling. IEEE Transactions on Industrial Electronics, 66 (5), 3914−3927. DOI: 10.1109/TIE.2018.2831643.
artikkel ajakirjas
Shen, Y.; Chub, A.; Wang, H.; Vinnikov, D.; Liivik, E.; Blaabjerg, F.
- Inglise
IEEE Transactions on Industrial Electronics
0278-0046
66
5
2019
3914–3927
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Jah
roheline
WOS
Viited terviktekstile
Seotud asutused
Lisainfo
- TAR16012 "Teadmistepõhise ehituse tippkeskus (1.10.2015−1.03.2023)", Jarek Kurnitski, Tallinna Tehnikaülikool, Ehitusteaduskond, Ehitiste projekteerimise instituut, Ehitusfüüsika ja energiatõhususe õppetool.
- PUT1443 "Parendatud omadustega impedantsallikaga muundurid (1.01.2017−31.12.2020)", Dmitri Vinnikov, Tallinna Tehnikaülikool, Inseneriteaduskond, Elektroenergeetika ja mehhatroonika instituut.
https://vbn.aau.dk/ws/files/293355928/Wear_out_Failure_Analysis_of_an_Impedance_Source_PV_Microinverter_Based_on_System_Level_Electro_Thermal_Modeling.pdf