Diagnostic Modelling of Digital Systems with Binary and High-Level Decision Diagrams
Ubar, R.; Raik, J.; Kruus, H.; Lensen, H.; Evartson, T. (2008). Diagnostic Modelling of Digital Systems with Binary and High-Level Decision Diagrams. In: Bonilla, L.L.; Moscoso, M.; Platero, G.; Vega, J.M. (Ed.). Progress in Industrial Mathematics at ECMI 2006 (902−907). . Springer-Verlag. (Mathematics in Industry ; 12).
artikkel / peatükk kogumikus
Ubar, R.; Raik, J.; Kruus, H.; Lensen, H.; Evartson, T.
- Inglise
Progress in Industrial Mathematics at ECMI 2006
Bonilla, L.L.; Moscoso, M.; Platero, G.; Vega, J.M.
Springer-Verlag
978-3-540-71991-5
Mathematics in Industry
12
2008
902–907
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata
Viited terviktekstile
Seotud asutused
Lisainfo
- SF0142508s03 (SF0142508s03) "Digitaalsüsteemide disain ja test (1.01.2003−31.12.2007)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- ETF7068 "Kõrgtaseme otsustusdiagrammidel põhinevad digitaalsüsteemide verifitseerimis- ja testimismeetodid (1.01.2007−31.12.2010)", Jaan Raik, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- SF0140041s08 "Töökindlate sardsüsteemide disain (1.01.2008−31.12.2013)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.