See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Characterization of titanium dioxide atomic layer growth from titanium ethoxide and water

Aarik, J.; Aidla, A.; Sammelselg, V.; Uustare, T.; Ritala, M.; Leskela, M. (2000). Characterization of titanium dioxide atomic layer growth from titanium ethoxide and water. Thin Solid Films, 370, 163−172.
ajakirjaartikkel
Aarik, J.; Aidla, A.; Sammelselg, V.; Uustare, T.; Ritala, M.; Leskela, M.
  • Inglise
Thin Solid Films
Elsevier Science SA
0040-6090
370
2000
163172
10
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
WOS

Viited terviktekstile

Lisainfo

Article
ISI Web of Science