See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Electrical characterization of high-k based MIS capacitors using flat-band voltage transients

García, H.; Dueñas, S.; Castán, H.; Gómez, A.; Bailón, L.; Kukli, K.; Hatanpää, T.; Aarik, J.; Aidla, A.; Ritala, M.; Leskelä, M. (2009). Electrical characterization of high-k based MIS capacitors using flat-band voltage transients. Proceedings of the 2009 Spanish Conference on Electron Devices: The 2009 Spanish Conference on Electron Devices (CDE 2009), 11-13 February 2009, Santiago de Compostela, Spain. Ed. Garcia Loureiro, A.; Iglesias, N.S.; Aldegunde Rodriguez, M.A.; Comesana Figueroa, E. Piscataway, NJ, USA: IEEE, 223−226.
publitseeritud konverentsiettekanne
García, H.; Dueñas, S.; Castán, H.; Gómez, A.; Bailón, L.; Kukli, K.; Hatanpää, T.; Aarik, J.; Aidla, A.; Ritala, M.; Leskelä, M.
  • Inglise
Proceedings of the 2009 Spanish Conference on Electron Devices
Garcia Loureiro, A.; Iglesias, N.S.; Aldegunde Rodriguez, M.A.; Comesana Figueroa, E.
The 2009 Spanish Conference on Electron Devices (CDE 2009), 11-13 February 2009, Santiago de Compostela, Spain
Piscataway, NJ, USA
IEEE
2009
223226
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile

Lisainfo