See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Microstructure characterisation of ALD-grown epitaxial SnO2 thin films

Lu, J.; Sundqvist, J.; Ottosson, M.; Tarre, A.; Rosental, A.; Aarik, J.; Harsta, A. (2004). Microstructure characterisation of ALD-grown epitaxial SnO2 thin films. Journal of Crystal Growth, 260, 191−200.
ajakirjaartikkel
Lu, J.; Sundqvist, J.; Ottosson, M.; Tarre, A.; Rosental, A.; Aarik, J.; Harsta, A.
  • Inglise
Journal of Crystal Growth
Elsevier Science BV
0022-0248
260
2004
191200
10
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
WOS

Viited terviktekstile