See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Phase composition of selenized Cu(2)ZnSnSe(4) thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopy

Ganchev, M.; Iljina, J.; Kaupmees, L.; Raadik, T. ; Volobujeva, O.; Mere, A.; Altosaar, M.; Raudoja, J.; Mellikov, E. (2011). Phase composition of selenized Cu(2)ZnSnSe(4) thin films determined by X-ray diffraction and Raman spectroscopy. Thin Solid Films, 519 (21), 7394−7398.10.1016/j.tsf.2011.01.388.
ajakirjaartikkel
Ganchev, M.; Iljina, J.; Kaupmees, L.; Raadik, T. ; Volobujeva, O.; Mere, A.; Altosaar, M.; Raudoja, J.; Mellikov, E.
  • Inglise
Thin Solid Films
0040-6090
519
21
2011
73947398
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
WOS

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2011.01.388