See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Spectroscopic study of thin titanium dioxide films grown by atomic layer deposition

Männik, J.; Aarik, J.; Sildos, I.; Kasikov, A.; Aidla, A. (1998). Spectroscopic study of thin titanium dioxide films grown by atomic layer deposition. Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Physics. Mathematics, 47, 56−62.
ajakirjaartikkel
Männik, J.; Aarik, J.; Sildos, I.; Kasikov, A.; Aidla, A.
Proceedings of the Estonian Academy of Sciences. Physics. Mathematics
47
1998
5662
Ilmunud
1.2. Teadusartiklid teistes rahvusvahelistes teadusajakirjades, millel on registreeritud kood, rahvusvaheline toimetus, rahvusvahelise kolleegiumiga eelretsenseerimine, rahvusvaheline levik ning kättesaadavus ja avatus kaastöödele
Teadmata

Viited terviktekstile

Lisainfo