See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin films for the absorber layer of sustainable photovoltaics

Yakushev, M.V.; Maiello, P; Raadik, T; Shaw, M.J.; Edwards, P.R.; Krustok, J.; Mudryi, A.V.; Forbes, I.; Martin, R.W. (2014). Electronic and structural characterisation of Cu3BiS3 thin films for the absorber layer of sustainable photovoltaics. Thin Solid Films, 562, 195−199./10.1016/j.tsf.2014.04.057.
ajakirjaartikkel
Yakushev, M.V.; Maiello, P; Raadik, T; Shaw, M.J.; Edwards, P.R.; Krustok, J.; Mudryi, A.V.; Forbes, I.; Martin, R.W.
  • Inglise
Thin Solid Films
0040-6090
562
2014
195199
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
WOS

Viited terviktekstile

dx.doi.org//10.1016/j.tsf.2014.04.057