See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Statistical analysis of X-ray diffraction topograms

Mändar, H.; Roosalu K.; Härtwig J.; Aarik J. (2014). Statistical analysis of X-ray diffraction topograms. XTOP Book of Abstracts: 12th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging,XTOP 2014, 15-19.09.2014. Villard de Lans, France: XTOP, 147−147.
publitseeritud konverentsiettekanne
Mändar, H.; Roosalu K.; Härtwig J.; Aarik J.
  • Inglise
Röntgentopogrammide statistiline analüüs
XTOP Book of Abstracts
12th Biennial Conference on High-Resolution X-Ray Diffraction and Imaging,XTOP 2014, 15-19.09.2014
Villard de Lans, France
XTOP
2014
147147
Ilmunud
5.2. Konverentsiteesid, mis ei kuulu valdkonda 5.1
Teadmata

Viited terviktekstile