Fault Diagnosis in Integrated Circuits with BIST
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Evartson, Teet; Lensen, Harri (2007). Fault Diagnosis in Integrated Circuits with BIST. In: Proceedings of 10th EUROMICRO Conference on Digital System Design - DSD 2007 (604-610). . IEEE Computer Society Press.
artikkel / peatükk kogumikus
Ubar, Raimund; Kostin, Sergei; Raik, Jaan; Evartson, Teet; Lensen, Harri
- Inglise
Proceedings of 10th EUROMICRO Conference on Digital System Design - DSD 2007
IEEE Computer Society Press
ISBN 0-7695-2978-X
2007
604-610
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata
Viited terviktekstile
Seotud asutused
Lisainfo
- SF0142508s03 (SF0142508s03) "Digitaalsüsteemide disain ja test (1.01.2003−31.12.2007)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- ETF7068 "Kõrgtaseme otsustusdiagrammidel põhinevad digitaalsüsteemide verifitseerimis- ja testimismeetodid (1.01.2007−31.12.2010)", Jaan Raik, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.
- ETF5910 (ETF5910) "Isetestivad digitaalsüsteemid (1.01.2004−31.12.2007)", Raimund Ubar, Tallinna Tehnikaülikool, Infotehnoloogia teaduskond.