See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Shallow defect density determination in CuIn3Se5 thin film photoabsorber by impedance spectroscopy

Laes, K.; Bereznev, S.; Tverjanovich, A.; Borisov, E.N.; Varema, T.; Volobujeva, O.; Öpik, A. (2009). Shallow defect density determination in CuIn3Se5 thin film photoabsorber by impedance spectroscopy. Thin Solid Films, 517 (7), 2286−2290.
ajakirjaartikkel
Laes, K.; Bereznev, S.; Tverjanovich, A.; Borisov, E.N.; Varema, T.; Volobujeva, O.; Öpik, A.
  • Inglise
Thin Solid Films
0040-6090
517
7
2009
22862290
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
WOS

Viited terviktekstile