See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Real-Time Optical Characterization of Atomic Layer Deposition of Dielectrics on Graphene

Möldre, Kristel; Tarre, Aivar; Adamson, Peep; Kahro, Tauno; Niilisk, Ahti; Aarik, Jaan (2013). Real-Time Optical Characterization of Atomic Layer Deposition of Dielectrics on Graphene. Book of Abstracts: International Conference "Functional Materials and Nanotechnologies 2013 - FM&NT2013"; Tartu, Estonia; April 21-24, 2013. Ed. Plank, Toomas; Pärna, Rainer. Institute of Physics, University of Tartu, 223.
publitseeritud konverentsiettekanne
Möldre, Kristel; Tarre, Aivar; Adamson, Peep; Kahro, Tauno; Niilisk, Ahti; Aarik, Jaan
  • Inglise
Grafeenile aatomkihtadestatud dielektiliste kilede kasvuaegne jälgimine
Book of Abstracts
Plank, Toomas; Pärna, Rainer
International Conference "Functional Materials and Nanotechnologies 2013 - FM&NT2013"; Tartu, Estonia; April 21-24, 2013
Institute of Physics, University of Tartu
978-9985-4-0744-8
2013
223
Ilmunud
5.2. Konverentsiteesid, mis ei kuulu valdkonda 5.1
Teadmata

Viited terviktekstile

Lisainfo