See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

(Invited) A Complete Suite of Experimental Techniques for Electrical Characterization of Conventional and Incoming High-k Dielectric-Based Devices

Duenas,S.; Castán, H.; García, H.; Arroval, T.; Tamm, A.; Kukli, K.; Aarik, J. (2016). (Invited) A Complete Suite of Experimental Techniques for Electrical Characterization of Conventional and Incoming High-k Dielectric-Based Devices. ECS Transactions, 72 (2), 153−165.DOI:10.1149/07202.0153ecst.
ajakirjaartikkel
Duenas,S.; Castán, H.; García, H.; Arroval, T.; Tamm, A.; Kukli, K.; Aarik, J.
  • Inglise
ECS Transactions
72
2
2016
153165
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
SCOPUS

Viited terviktekstile

dx.doi.org/DOI:10.1149/07202.0153ecst