See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

How to Generate High Quality Tests for Digital Systems

Ubar, R.; Aarna, M.; Kruus, H.; Raik, J. (2004). How to Generate High Quality Tests for Digital Systems. IEEE International Semiconductor Conference: CAS2004, Sinaia, Romania, oct 04-06 2004. IEEE-Inst Electrical Electronics Engineers Inc.
publitseeritud konverentsiettekanne
Ubar, R.; Aarna, M.; Kruus, H.; Raik, J.
  • Inglise
IEEE International Semiconductor Conference
CAS2004, Sinaia, Romania, oct 04-06 2004
IEEE-Inst Electrical Electronics Engineers Inc
2004
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile