See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Investigation of the spatial distribution of defects in semiconductor heterostructures by SEM in electron beam induced current mode

Aarik, J.; Bergmann, J.; Lõuk, P.; Sammelselg, V.; Soon, A.; Friedenthal, J. (1983). Investigation of the spatial distribution of defects in semiconductor heterostructures by SEM in electron beam induced current mode. Poverkhnost. Fizika, Khimiya, Mekhanika, 1, 84−89.
ajakirjaartikkel
Aarik, J.; Bergmann, J.; Lõuk, P.; Sammelselg, V.; Soon, A.; Friedenthal, J.
  • Vene
Poverkhnost. Fizika, Khimiya, Mekhanika
1
1983
8489
Ilmunud
1.2. Teadusartiklid teistes rahvusvahelistes teadusajakirjades, millel on registreeritud kood, rahvusvaheline toimetus, rahvusvahelise kolleegiumiga eelretsenseerimine, rahvusvaheline levik ning kättesaadavus ja avatus kaastöödele
Teadmata

Viited terviktekstile

Lisainfo

in Russian; translated into English: Phys. Chem. & Mech. Surf. (GB) 2, no. 1, 1984, 166-178.
Phys. Abstracts