See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Spectrophotometric and Raman spectroscopic characterization of ALD grown TiO2 thin films

Aarik, J.; Kasikov, A.; Niilisk, A. (2007). Spectrophotometric and Raman spectroscopic characterization of ALD grown TiO2 thin films. Proceedings of SPIE, Advanced Optical Materials, Technologies, and Devices, 6596: 5th International Conference on Advanced Optical Materials, Technologies, and Devices; Vilnius; 27-30 August 2006. Ed. Ašmontas; S.; Gradauskas, J. Bellingham, WA: SPIE, 659616-1−659616-6. (Proceedings of SPIE).10.1117/12.726492.
publitseeritud konverentsiettekanne
Aarik, J.; Kasikov, A.; Niilisk, A.
  • Inglise
Proceedings of SPIE, Advanced Optical Materials, Technologies, and Devices
Ašmontas; S.; Gradauskas, J.
5th International Conference on Advanced Optical Materials, Technologies, and Devices; Vilnius; 27-30 August 2006
Bellingham, WA
SPIE
0277-786X
9780819467324
6596
Proceedings of SPIE
2007
659616-1659616-6
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1117/12.726492