See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Spectroscopic study of nanocrystalline TiO2 thin films grown by atomic layer deposition

Suisalu, A.; Aarik, J.; Mandar, H.; Sildos, I. (1998). Spectroscopic study of nanocrystalline TiO2 thin films grown by atomic layer deposition. Thin Solid Films, 336, 295−298.
ajakirjaartikkel
Suisalu, A.; Aarik, J.; Mandar, H.; Sildos, I.
  • Inglise
Thin Solid Films
Elsevier Science SA
0040-6090
336
1998
295298
4
Ilmunud
1.1. Teadusartiklid, mis on kajastatud Web of Science andmebaasides Science Citation Index Expanded, Social Sciences Citation Index, Arts & Humanities Citation Index, Emerging Sources Citation Index ja/või andmebaasis Scopus (v.a. kogumikud)
Teadmata
WOS

Viited terviktekstile

Lisainfo

Article
ISI Web of Science