See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Investigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Films.

Yakushev, M.V.; Maiello, P.; Raadik, T.; Shaw, M.J.; Edwards, P.R.; Krustok, J.; Mudryi, A.V.; Forbes, I.; Martin, R.W. (2014). Investigation of the Structural, Optical and Electrical Properties of Cu3BiS3 Semiconducting Thin Films. In: Energy Procedia (166−172). Elsevier.10.1016/j.egypro.2014.12.359.
kogumikuartikkel/peatükk raamatus/kogumikus
Yakushev, M.V.; Maiello, P.; Raadik, T.; Shaw, M.J.; Edwards, P.R.; Krustok, J.; Mudryi, A.V.; Forbes, I.; Martin, R.W.
  • Inglise
Energy Procedia
Energy Procedia
Elsevier
1876-6102
60
2014
166172
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile

dx.doi.org/10.1016/j.egypro.2014.12.359