See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

Marginal PCB Assembly Defect Detection on DDR3/4 Memory Bus

Odintsov, Sergei; Jutman, Artur; Devadze, Sergei (2017). Marginal PCB Assembly Defect Detection on DDR3/4 Memory Bus. Proc of 48th IEEE International Test Conference (ITC’2017): IEEE International Test Conference (ITC’2017). Fort Worth, TX, USA, Oct 31 - Nov 2: IEEE.
publitseeritud konverentsiettekanne
Odintsov, Sergei; Jutman, Artur; Devadze, Sergei
  • Inglise
Proc of 48th IEEE International Test Conference (ITC’2017)
IEEE International Test Conference (ITC’2017)
Fort Worth, TX, USA, Oct 31 - Nov 2
IEEE
2017
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile

Lisainfo