See veebileht kasutab küpsiseid kasutaja sessiooni andmete hoidmiseks. Veebilehe kasutamisega nõustute ETISe kasutustingimustega. Loe rohkem
Olen nõus

In-Field Detection of Degradation on PCB Assembly High-Speed Buses

Odintsov, Sergei (2018). In-Field Detection of Degradation on PCB Assembly High-Speed Buses. Proc. of AUTOTESTCON’2018, National Harbour, USA, Sept 17-21, 2018: AUTOTESTCON, September 17-21, 2018, National Harbour, USA. IEEE.
publitseeritud konverentsiettekanne
Odintsov, Sergei
  • Inglise
Proc. of AUTOTESTCON’2018, National Harbour, USA, Sept 17-21, 2018
AUTOTESTCON, September 17-21, 2018, National Harbour, USA
IEEE
2018
Ilmunud
3.1. Artiklid/peatükid lisas loetletud kirjastuste välja antud kogumikes (kaasa arvatud Web of Science Book Citation Index, Web of Science Conference Proceedings Citation Index, Scopus refereeritud kogumikud)
Teadmata

Viited terviktekstile

Lisainfo